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■検索結果 - 展開形 : atom probe field-ion microscopy
検索条件
検索語:atom probe field-ion microscopy
検索方法:完全一致
主な研究分野:
結果
展開形: atom probe field-ion microscopy
出現頻度: 6
対応する略語の数: 1
1
APFIM
(6回)
画像診断, 画像診断法
(4回)
AEM(1回)
APT(1回)
TEM(1回)